红外热成像检测发现缺陷时，若是由两种或两种以上因素引起的，应综合判断缺陷性质。对

Loveyou2019-12-17 54

问题红外热成像检测发现缺陷时，若是由两种或两种以上因素引起的，应综合判断缺陷性质。对于磁场和漏磁引起的过热可依据电压致热型设备的判据进行处理。

选项

答案错

解析

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