红外测温对于磁场和漏磁引起的过热可依据（）致热型设备的判据进行处理。

tikufree2019-12-17 68

问题红外测温对于磁场和漏磁引起的过热可依据（）致热型设备的判据进行处理。

选项电流$;$电压$;$功率$;$涡流

答案A

解析

转载请注明原文地址:https://ti.zuoweng.com/ti/u9f9KKKQ

相关试题推荐

随机试题