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  3. 试述采用温度测量法探测电气元件故障的依据及所采用的仪器。

试述采用温度测量法探测电气元件故障的依据及所采用的仪器。

tikufree2019-12-17  69
问题 <P>试述采用温度测量法探测电气元件故障的依据及所采用的仪器。</P>
选项
答案
解析<P>答：电气元件接触不良会使接触电阻增加。当有电流通过时，会因发热量增大而形成局部过热。与此相反，整流管、晶闸管等器件损伤后，将不会发热而出现冷点。通过局部过热及所出现的冷点的检测，便可以探测出电气元件故障。电气元件故障通常采用红外热像仪进行探测。</P>
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