红外测温对于磁场和漏磁引起的过热可依据()致热型设备的判据进行处理。

tikufree2019-12-17  24

问题 红外测温对于磁场和漏磁引起的过热可依据()致热型设备的判据进行处理。

选项 电流$;$电压$;$功率$;$涡流

答案A

解析
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