可用于剔除不良元器件,减少早期故障的可靠性试验是( ) A.可靠性增长试验 B

昕玥2019-12-17  20

问题 可用于剔除不良元器件,减少早期故障的可靠性试验是( )A.可靠性增长试验 B.环境应力筛选试验C.可靠性测定试验 D.可靠性鉴定试验

选项

答案B

解析
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