一般情况下，电子元器件的寿命试验属于（）。 A.非破坏性检验 B.破坏性检验

Loveyou2019-12-17 56

问题一般情况下，电子元器件的寿命试验属于（）。A.非破坏性检验 B.破坏性检验C.全数检验 D.感官检验

选项

答案B

解析

转载请注明原文地址:https://ti.zuoweng.com/ti/wXDNKKKQ

相关试题推荐

随机试题